高精度微分頭計量儀器

   PTTC-300型高精度微分頭計量儀器，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）

精密微分頭螺旋測微器計量儀器，硬質合金測量面，平面測頭型式，測量范圍0~25mm。該微分頭適用于組合各種精密儀器、設備的微調與測量。（可定制各類非標微分頭）

   PTTC-300型高精度微分頭計量儀器，位移變化讀數：

       L=（a+0.001b+0.0001c）-(a₀+0.001b₀+0.001c₀)

               a—內筒毫米刻線讀數

               b—外筒刻線讀數

               c—游標刻線讀數

               a₀ b₀ c₀ 為相應位移變化前讀數

微分測量頭讀數內筒軸向刻度0.5mm/格
微分測量頭讀數外筒圓周刻度0.005mm/格
微分測量頭精度示值誤差指標分度值0.001mm
精度 ±0.002mm